შეწირულობა 15 სექტემბერს 2024 – 1 ოქტომბერს 2024
თანხის შეგროვების შესახებ
წიგნების ძებნა
წიგნები
შეწირულობა:
59.5% ამოწურულია
შესვლა
შესვლა
ავტორიზებულ მომხმარებლებს აქვთ წვდომა:
პერსონალური რეკომენდაციები
Telegram ბოტი
ჩამოტვირთვის ისტორია
გაგზავნეთ Email-ზე ან Kindle-ზე
კრებულების მართვა
შენახვა რჩეულებში
პირადი
წიგნის მოთხოვნა
შესწავლა
Z-Recommend
წიგნების სარჩევი
ყველაზე პოპულარული
კატეგორია
მონაწილეობა
დახმარება
ატვირთვები
Litera Library
ქაღალდის წიგნების შეწირვა
ქაღალდის წიგნების დამატება
Search paper books
ჩემი LITERA Point
საკვანძო სიტყვების ძებნა
Main
საკვანძო სიტყვების ძებნა
search
1
Test digitaler Schaltkreise
De Gruyter Oldenbourg
Stephan Eggersglüß
,
Görschwin Fey
,
Ilia Polian
fehler
wert
testmuster
schaltung
beispiel
abbildung
gatter
scan
werte
ausgang
testmustergenerierung
schaltkreis
verfahren
schaltungen
haftfehler
algorithmus
eingang
anzahl
somit
fault
eingänge
engl
eingängen
simulation
schaltkreises
zustand
primären
tests
entdeckt
speicherzellen
testmenge
diagnose
atpg
gatters
fehlersimulation
muster
tabelle
eingesetzt
bezeichnet
beziehungsweise
conference
fehlern
grenze
abschnitt
fehlermodelle
leitung
menge
erzeugt
folgenden
werten
წელი:
2014
ენა:
german
ფაილი:
PDF, 1.21 MB
თქვენი თეგები:
0
/
0
german, 2014
2
Testmustergenerierung und Fehlersimulation in digitalen Schaltungen mit hoher Komplexität
Springer-Verlag Berlin Heidelberg
Michael H. Schulz (auth.)
fanout
fehlersimulation
signal
schaltung
fehler
testmustergenerierung
bild
wert
schaltungen
zahl
menge
logischen
verfahren
wertzuweisung
testmuster
proceedings
d.h
deterministischen
objectives
signale
fault
implikationen
prozedur
knoten
gatter
zonen
fanoutfreien
zwingend
seiten
entsprechend
wertzuweisungen
falls
automatischen
werte
bzw
socrates
sensibilisierungsmabnahmen
stamme
entscheidungsbaum
besteht
somit
durchfiihrung
urn
rahmen
anwendung
backtracking
bezeichnet
ergebnisse
notwendigen
signals
წელი:
1988
ენა:
german
ფაილი:
PDF, 8.85 MB
თქვენი თეგები:
0
/
0
german, 1988
3
Test digitaler Schaltkreise
De Gruyter Oldenbourg
Stephan Eggersglüß
,
Görschwin Fey
,
Ilia Polian
fehler
wert
testmuster
schaltung
beispiel
abbildung
scan
gatter
werte
ausgang
verfahren
schaltkreis
testmustergenerierung
schaltungen
haftfehler
anzahl
somit
eingang
fault
eingänge
engl
algorithmus
schaltkreises
simulation
eingängen
primären
tests
zustand
entdeckt
speicherzellen
atpg
gatters
testmenge
tabelle
eingesetzt
bezeichnet
beziehungsweise
conference
abschnitt
fehlern
diagnose
muster
leitung
menge
erzeugt
folgenden
werten
testmustern
transactions
daher
წელი:
2014
ენა:
german
ფაილი:
EPUB, 3.31 MB
თქვენი თეგები:
0
/
0
german, 2014
1
მიჰყევით
ამ ბმულს
ან Telegram-ში მოძებნეთ „@BotFather“ ბოტი
2
გაგზავნეთ ბრძანება /newbot
3
შეიყვანეთ თქვენი ბოტის სახელი
4
შეიყვანეთ მომხმარებლის სახელი ბოტისთვის
5
დააკოპირეთ BotFather-ისგან ბოლო შეტყობინება და ჩასვით აქ
×
×